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WIP雙頻白光干涉白點測量傳感器

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上市時間: 2025 - 06 - 04

產品描述:

產品說明:

德國Werth公司系列復合式光學三坐標可選配各種點激光、線激光、WIP雙頻白光干涉白點測量傳感器測頭。主要用于微小內外部尺寸測量, 例如噴油嘴內壁截面直徑及內壁輪廓測量主要特點：◆用于微小形位尺寸測量, 像噴油孔, 小溝槽, 特別是小孔內壁粗糙度測量◆ 非接觸式光纖傳感器◆ 基于雙頻干涉原理, 可用于不同的表面材料屬性◆ 傳感器自動更換系統◆ 光學可視化測量, 操作應用簡便◆ 可選配旋轉測量模塊, 用于內外壁切面測量評估◆ 可評估粗糙度WIP技術參數：(詳細參數請撥打 400-711 6391 / 010-8047 0808）◆ 傳感器原理雙頻干涉原理◆ 工作距離 0.01-3mm◆ 測量范圍 +/-150µm

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WIP雙頻白光干涉白點測量傳感器

德國Werth公司系列復合式光學三坐標可選配各種點激光、線激光、WIP雙頻白光干涉白點測量傳感器測頭。主要用于微小內外部尺寸測量, 例如噴油嘴內壁截面直徑及內壁輪廓測量

主要特點：
◆用于微小形位尺寸測量, 像噴油孔, 小溝槽, 特別?是小孔內壁粗糙度測量
◆ 非接觸式光纖傳感器
◆ 基于雙頻干涉原理, 可用于不同的表面材料屬性
◆ 傳感器自動更換系統
◆ 光學可視化測量, 操作應用簡便
◆ 可選配旋轉測量模塊, 用于內外壁切面測量評估
◆ 可評估粗糙度

WIP技術參數：(詳細參數請撥打 400-711 6391 / 010-8047 0808）
◆ 傳感器原理?雙頻干涉原理
◆ 工作距離????????????? ?0.01-3mm
◆ 測量范圍?????????????? +/-150μm

WIP雙頻白光干涉白點測量傳感器

Dantsin-Werth Inspector FQ高速復合式光學三坐標測量機

發布時間： 2015 - 09 - 01

Dantsin-Werth Inspector FQ超高速復合式三坐標測量機采用無摩擦的線性驅動系統可以做到超高速批量檢測并可保證高精度，定位速度可達1m/s，加速度10m/s2。主要特點：◆ 高速測量，采用無摩擦的線性驅動系統◆ 三維幾何自動化測量，輪廓圖象處理系統，用于常規幾何和自由曲面的自動測量◆ 模快化構造能夠快速適用于不同的測量任務◆ Z軸快速成像自動聚焦系統，高速CNC連續路徑控制◆ 無畸變遠心光學系統(0.2x-100x）,可選用變焦光學系統◆ 可選配接觸式測頭、點激光、線激光各種傳感器技術參數：（詳細參數請撥打400-711 6391/010-80470808）型號 Inspector FQ 測量范圍 (X-軸) 400-1000mm (Y-軸) 400-1000mm (Z-軸) 200-300mm 允許測量誤差 (E1單軸精度） (2.5+L(mm)/120)µm (E2平面精度） (2.9+L(mm)/100)µm (E3空間精度） (4.5+L(mm)/75)µm 可選配Werth Zoom高放大倍率(0.68-6.8X或1-10X)，大工作距離(80mm標準或20mm-220mm可變)十級自動變焦系統，更高測量精度可選依據標準 ISO 10360 和 VDI/VDE 2617

Dantsin-Werth ScopeCheck臺式復合式光學三坐標測量機

發布時間： 2015 - 09 - 01

Dantsin-Werth公司生產的ScopeCheck300/200/200臺式高精度復合式光學三坐標測量機為工廠計量室或數控車間使用，用于各種工件高精度三維測量。ScopeCheck 300/200/200主要特點：◆ 適用于計量室和現場測量的高性能復合型三坐標測量機◆ 高精度重載型大理石基座，整體落地式結構，確保測量穩定性◆ 模塊化測量系統設計，解決了特殊工件測量問題，如測量花鍵跨棒距◆ 強大濾波功能，能夠完成復雜的濾波如：噪聲濾波、除塵濾波、毛刺濾波等，保證測量準確性◆ 人性化操縱桿面板具有元素快捷鍵按鈕，例如具有點、線、圓、面等快捷按鍵，操作靈活◆ 可選配Werth Zoom變焦系統，80毫米大工作距離，十級自動變焦◆ 選配接觸式測頭、點激光、線激光、光纖、色敏(測量透明工件)各種傳感器及彩色CCD圖像處理系統技術參數：（詳細參數請撥打400-711 6391/010-80470808）型號ScopeCheck300/200/200(精密型)ScopeCheck300/200/200(標準型)測量范圍(X軸)300mm（400mm可選）300mm（400mm可選） (Y軸) 200mm200mm(Z軸)200mm200mm分辨率0.1µm0.1µm

Dantsin-Werth Scopecheck FB固定橋式復合光學三坐標測量機

發布時間： 2015 - 09 - 01

Werth ScopeCheck® FB DZ用于經濟生產控制的多傳感器坐標測量機設計用于車間環境下的三維數控固定橋多傳感器坐標測量機。傳感器系統Werth圖像處理視頻傳感器， Werth 3D-Patch， Werth 激光傳感器，接觸式探頭，動態掃描探頭，Werth光纖探頭，Werth輪廓探頭等。量程X = 400 (530) 毫米-1500 (1630) 毫米; Y=500-1000 毫米; Z=350毫米（詳細參數請撥打400-711 6391/010-80470808）

Dantsin-Werth Scopecheck MB復合光學三坐標測量機

發布時間： 2015 - 09 - 01

Dantsin-Werth公司生產的Scopecheck MB移動橋式復合型三坐標測量機，采用整體大理石基座，氣浮導軌系統，測量靈活性強，具有可拆卸式底光源系統，并采用平行光源，適用于大型零部件的現場測量。主要特點：◆ 大測量范圍新型復合移動橋式光學三坐標測量機◆ 可拆卸式玻璃工作臺，高精度氣浮導軌系統◆ 大理石工作臺選配設計平行底光，可移動式底光源將在更廣泛的領域應用◆ 針對大型工件檢測所設計的平行底光源系統，使復雜工件的測量更為簡單新型的復合型三坐標測量機◆ 利用自動影像傳感器及投射光和透射光對幾何元素進行測量◆ 集成放大光路 (0.5x-5x 放大比率16x-160x，置換鏡頭1x-100x 放大比率 34x-3400x)，Z軸自動聚焦法測量◆ 可選配接觸式測頭、點激光、線激光、光纖、色敏(適用測量透明工件)各種傳感器及彩色CCD圖像處理系統◆ 系統測量模塊化，使檢測更為便捷、快速、簡單技術參數：（詳細參數請撥打400-711 6391/010-80470808）型號Scopecheck MB移動橋式測量范圍（X軸）500-2000mm測量范圍（Y軸）600-3000mm測量范圍（Z軸）450-1500mm允許誤差 MPE-E1（5X）（1.8+L/500）um &...

Dantsin-Werth FlatScope平面零件光學掃描儀

發布時間： 2015 - 09 - 01

Dantsin-Werth FlatScope平面零件光學掃描儀適于工廠高速柵格二維掃描測量平面類零件，如線路板、手機外殼、模板等。封閉式結構，平面光源位于頂部機蓋，CCD變焦系統位于機器底部，快速聚焦于大玻璃工作臺表面，可同時測量位于工作臺表面各種不同類型零件。作為測量儀器，該掃描儀可準確測量二維工件.主要特點：◆ 高速的矩陣式掃描系統，適用于生產現場的二維測量◆ 工業圖像處理系統，掃描規則的幾何元素及自由輪廓◆ 被測工件可任意位置放置◆ 模塊化的測量軟件◆ 利用投射光和透射光進行工件掃描◆ 快捷方便的WinWerth評估軟件◆ WinWerth軟件CAD在線和公差擬合測量◆ 平面光源◆ 精度采用高標準雙邊標定技術參數：（詳細參數請撥打400-711 6391/010-80470808）測量范圍（玻璃工作臺?尺寸）:X = 400/650mmY = 200/400/600mm工件高度：Z = 100mm光柵尺分辨率：0.1µm

Dantsin-Werth EasyScope 3D man: 入門級帶有自動尋邊功能的測量機

發布時間： 2015 - 09 - 01

Dantsin-Werth公司生產的EasyScope臺式非接觸光學三坐標測量機為車間、生產現場快速檢測工件三維尺寸使用，精度高、靈活快速。EasyScope主要特點：◆ 通過投射光和透射光對基本幾何元素進行全自動影像測量◆ 系統測量模塊化，保證用戶可以對特殊工件進行測量◆ 模塊化的系統結構，能夠全滿足客戶特殊需求◆ 集成放大光路 (0.9x-4.3x 放大比率 28x -130x)◆ 可選觸發式傳感器系統，使測量機具有高度靈活性及快速測量能力◆ Z軸方向自動聚焦測量系統◆ 具有高度靈活的CNC光源裝置技術參數：（詳細參數請撥打400-711 6391/010-80470808）型　　號 EasyScope200/150/150 測量范圍 (X軸) 200mm (Y軸) 150mm 150mm 分辨率 0.1µm

Werth ScanCheck?

發布時間： 2016 - 01 - 29

Werth ScanCheck®在車間環境中，針對經濟維度控制和計量器更換的三維超緊湊型掃描測量機設計臺式三維數控接觸式傳感器坐標測量機。量程X=400/400/600毫米; Y=200/400/650毫米 ; Z=200/400/300毫米.傳感器系統觸覺動態測量探頭系統應用領域工具制造業，機器制造和汽車制造業中的小型立方體工件。（詳細參數請撥打400-711 6391/010-80470808）

WIP雙頻白光干涉白點測量傳感器

發布時間： 2015 - 09 - 01

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WIP雙頻白光干涉白點測量傳感器